MIT耐折度試驗儀

一、產品(pin)概述

MIT耐(nai)折度(du)試驗(yan)儀是測定(ding)紙張、紙板(ban)及其他片(pian)狀材料耐(nai)折疊疲勞(lao)強度(du)的儀器。根據(ju)通用的MIT式耐折工作原理設計。

儀器(qi)采用光(guang)電(dian)控制技術能(neng)(neng)使(shi)折(zhe)疊夾頭在每(mei)次實(shi)驗后(hou)自動歸位(wei)，方便了下(xia)一次的(de)操作。儀器(qi)具(ju)備強(qiang)大的(de)數(shu)據處理功能(neng)(neng)：不但能(neng)(neng)夠(gou)對單(dan)一試(shi)樣(yang)(yang)的(de)雙折(zhe)次數(shu)及(ji)相(xiang)應(ying)的(de)對數(shu)值(zhi)（耐折(zhe)度）進行轉換，而且能(neng)(neng)夠(gou)統計同組多個試(shi)樣(yang)(yang)的(de)實(shi)驗數(shu)據，能(neng)(neng)夠(gou)統計出同組試(shi)樣(yang)(yang)的(de)z大值(zhi)、z小值(zhi)、平均(jun)值(zhi)和變異系數(shu)，這些(xie)數(shu)據存儲(chu)在微(wei)電(dian)腦內，通(tong)過大屏幕彩色觸(chu)摸(mo)屏顯示。采(cai)用精密電(dian)機伺服控制，定位準(zhun)確。儀器具有技術*進、功能齊全、性能可靠、操作方便等優點，是造紙、包裝、科研及產品質量監督檢驗等行業和部門理想的試驗設備。

二、執(zhi)行標準

ISO 5626《紙耐折(zhe)度的測定》

GB/T 457《紙和紙板(ban) 耐折度的測定》

三(san)、主要(yao)性(xing)能參數

1、微型計算(suan)機控制技術，開放式結構，操作簡單方便、安全可靠。

2、自動測量、統計(ji)、打印測試結果，并具有數據(ju)保存功能。

    3、測(ce)試(shi)完(wan)畢,自(zi)動回(hui)到零位(wei)功能(neng)。

4、光(guang)機電一(yi)體(ti)化現(xian)代設計理念，結構緊湊(cou)，外(wai)觀(guan)美觀(guan)大(da)方，維(wei)修方便。

四、主要(yao)技術參(can)數