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簡(jian)要描述:ZB-HY3000邊(bian)壓(ya)(ya)機是測定紙(zhi)張環壓(ya)(ya)強(qiang)度(du)(RCT)、瓦(wa)(wa)楞紙(zhi)板邊(bian)壓(ya)(ya)強(qiang)度(du)(ECT)、瓦(wa)(wa)楞紙(zhi)板平壓(ya)(ya)強(qiang)度(du)(FCT)、瓦(wa)(wa)楞紙(zhi)板粘合強(qiang)度(du)(PAT)、瓦(wa)(wa)楞原紙(zhi)平壓(ya)(ya)強(qiang)度(du)(CMT)的(de)儀器(qi)。是目(mu)前國內(nei)性價比非常高的(de)一款高精度(du)壓(ya)(ya)縮強(qiang)度(du)測試儀器(qi)。
產品型號: ZB-HY3000
所屬分類:邊壓儀
更(geng)新時間:2024-07-01
品牌 其他品牌
ZB-HY3000邊壓機
一、邊壓機產品概述
ZB-HY3000壓縮強(qiang)(qiang)(qiang)度(du)測(ce)(ce)試儀是(shi)測(ce)(ce)定紙(zhi)張環壓強(qiang)(qiang)(qiang)度(du)(RCT)、瓦(wa)楞(leng)紙(zhi)板邊壓強(qiang)(qiang)(qiang)度(du)(ECT)、瓦(wa)楞(leng)紙(zhi)板平壓強(qiang)(qiang)(qiang)度(du)(FCT)、瓦(wa)楞(leng)紙(zhi)板粘(zhan)合強(qiang)(qiang)(qiang)度(du)(PAT)、瓦(wa)楞(leng)原(yuan)紙(zhi)平壓強(qiang)(qiang)(qiang)度(du)(CMT)的儀器。是(shi)目前國內性價比非常高的一款(kuan)高精度(du)壓縮強(qiang)(qiang)(qiang)度(du)測(ce)(ce)試儀器。
該儀器為機(ji)電一(yi)體(ti)化(hua)結(jie)構,采用現代機(ji)械(xie)設計(ji)理念和微機(ji)處理技術進行精心合(he)理的(de)設計(ji)。儀器采用上壓板固(gu)定式,測量精度高。具有強大的(de)數據(ju)處理功(gong)能,可直接得出各(ge)項數據(ju)的(de)統(tong)計(ji)結(jie)果,并且能自動復位(wei),操(cao)作方便(bian),容(rong)易調節,性能穩定。
儀器配(pei)備相應(ying)輔具(ju)可(ke)進行以下試(shi)驗(可(ke)選(xuan)):
——配備環壓試(shi)驗中心盤和環壓取樣器,進(jin)行紙(zhi)板環壓強度試(shi)驗(RCT)
——配備邊壓(粘合(he))試(shi)樣取樣器和輔助導塊,進行瓦楞紙板(ban)邊壓強度試(shi)驗(ECT)
——配(pei)備平(ping)壓試樣(yang)取(qu)樣(yang)器,進行瓦楞紙板平(ping)壓強(qiang)度試驗(FCT)
——配(pei)備剝(bo)離(li)強(qiang)度試(shi)驗架(jia),進行瓦楞紙板粘合(剝(bo)離(li))強(qiang)度試(shi)驗(PAT)
——配備槽紋儀和輔助(zhu)器具,進行瓦楞原紙平(ping)壓強度(CMT)
二、執行標準
ISO 12192《紙和紙板(ban)----壓縮強度-----環壓法(fa)》
ISO 3070《瓦楞紙板(ban)-----邊緣耐壓強度的測(ce)定(ding)》
ISO 7263《瓦(wa)楞芯紙----實驗室起楞后平壓強度的(de)測定》
ISO 3035《單(dan)面和單(dan)瓦楞(leng)紙板 平(ping)壓強度的測定》
GB/T 2679.8《紙和紙板(ban)環壓強度的測定(ding)》
GB/T 6546《瓦楞(leng)紙板邊壓強(qiang)度的測定》
GB/T 6548《瓦楞紙板粘合強(qiang)度的測定》
GB/T 2679.6《瓦楞原(yuan)紙平壓強度的測定(ding)》
GB/T22874《單(dan)面和單(dan)瓦楞紙板 平壓強度的測定》
三、主要性能參數
四、主要技術參數
參數項(xiang)目 | 技術指標(biao) |
電源 | AC220V±10% 50HZ |
測量范圍(wei)(N) | 50~3000 |
分辨力(li)(N) | 0.1 |
示值準(zhun)確度 | 示值誤(wu)差±1%,示值變動性≤1% |
試驗速度(mm/min) | 12.5±2.5 |
上下壓板平(ping)行度(du)(mm) | <0.05 |
上下壓板zui大距離(li)(mm) | 78 |
儀器尺寸(長*寬*高)mm | 450*400*500 |
凈重kg | 50 |
注:測試數據在(zai)100N以下(含100N)時(shi),示值準確(que)度允許超出上表(biao)規(gui)定范圍
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