MIT耐折度試驗儀

一(yi)、產品概述

MIT耐(nai)折度試驗儀是測定(ding)紙張、紙板及其他(ta)片狀材料耐(nai)折疊疲勞強度的(de)儀器。根(gen)據(ju)通用的(de)MIT式耐折工作(zuo)原(yuan)理設計(ji)。

儀器采用光(guang)電(dian)控制技術能(neng)使折疊夾頭在每次(ci)實驗后自動歸位，方便了下(xia)一次(ci)的(de)(de)操作。儀器具(ju)備強大(da)(da)的(de)(de)數(shu)據處理功(gong)能(neng)：不但能(neng)夠對(dui)單一試(shi)樣的(de)(de)雙折次(ci)數(shu)及相應的(de)(de)對(dui)數(shu)值（耐折度）進行轉換，而且能(neng)夠統計(ji)同(tong)組多個試(shi)樣的(de)(de)實驗數(shu)據，能(neng)夠統計(ji)出同(tong)組試(shi)樣的(de)(de)z大(da)(da)值、z小值、平均(jun)值和變異系數(shu)，這(zhe)些數(shu)據存儲在微電(dian)腦內(nei)，通過大(da)(da)屏幕(mu)彩色觸摸屏顯示。采用精密電機伺服控制，定位準確。儀器具有技術*進、功能齊全、性能可靠、操作方便等優點，是造紙、包裝、科研及產品質量監督檢驗等行業和部門理想的試驗設備。

二、執行(xing)標準(zhun)

ISO 5626《紙耐折度的測定》

GB/T 457《紙(zhi)和紙(zhi)板 耐折(zhe)度的(de)測定》

三、主要性能參數

1、微型計算機控(kong)制技(ji)術(shu)，開放式結構，操作簡(jian)單方便、安全(quan)可靠。

2、自動測(ce)(ce)量、統計、打印測(ce)(ce)試結果(guo)，并具有數(shu)據保存功能。

    3、測試完(wan)畢,自動回到零位功能。

4、光機電(dian)一(yi)體化現代設(she)計理(li)念，結構(gou)緊湊(cou)，外(wai)觀(guan)美觀(guan)大方，維(wei)修方便。

四、主要(yao)技術參數