簡要描(miao)述:紙管抗壓(ya)(ya)(ya)(ya)儀是測定(ding)紙張環壓(ya)(ya)(ya)(ya)強度(du)(RCT)、瓦楞紙板邊壓(ya)(ya)(ya)(ya)強度(du)(ECT)、瓦楞紙板平(ping)壓(ya)(ya)(ya)(ya)強度(du)(FCT)、瓦楞紙板粘(zhan)合強度(du)(PAT)、瓦楞原紙平(ping)壓(ya)(ya)(ya)(ya)強度(du)(CMT)、紙管平(ping)壓(ya)(ya)(ya)(ya)強度(du)的儀器(qi)。是目(mu)前(qian)國內性(xing)價比非常高的一款高精度(du)壓(ya)(ya)(ya)(ya)縮(suo)強度(du)測試儀器(qi)。
產品型(xing)號: ZB-HY5000
所屬分類:多功能壓縮試驗機
更新(xin)時間:2024-06-30
品牌 其他品牌 產地類別 國產 應用領域 印刷包裝
一(yi)、產品概(gai)述
ZB-HY5000紙管抗壓儀是測(ce)(ce)定(ding)紙(zhi)(zhi)張環壓(ya)強(qiang)(qiang)度(du)(du)(RCT)、瓦(wa)(wa)楞紙(zhi)(zhi)板邊壓(ya)強(qiang)(qiang)度(du)(du)(ECT)、瓦(wa)(wa)楞紙(zhi)(zhi)板平壓(ya)強(qiang)(qiang)度(du)(du)(FCT)、瓦(wa)(wa)楞紙(zhi)(zhi)板粘合強(qiang)(qiang)度(du)(du)(PAT)、瓦(wa)(wa)楞原(yuan)紙(zhi)(zhi)平壓(ya)強(qiang)(qiang)度(du)(du)(CMT)、紙(zhi)(zhi)管平壓(ya)強(qiang)(qiang)度(du)(du)的儀(yi)器(qi)(qi)。是目(mu)前國(guo)內性價比(bi)非常高的一(yi)款(kuan)高精度(du)(du)壓(ya)縮(suo)強(qiang)(qiang)度(du)(du)測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)(qi)。
該紙管抗壓儀為機電一體化結構,采用現代機械設計理念和微機處理技術進行精心合理的設計。儀器采用上壓板固定式,測量精度高。具有強大的數據處理功能,可直接得出各項數據的統計結果,并且能自動復位,操作方便,容易調節,性能穩定。
儀器配備相應輔(fu)具可進行以(yi)下(xia)試驗:
——配備環(huan)壓試驗(yan)中心(xin)盤和環(huan)壓取樣器(qi),進行紙板環(huan)壓強(qiang)度試驗(yan)(RCT)
——配(pei)備邊壓(粘合)試(shi)樣(yang)取樣(yang)器和輔助導塊,進(jin)行瓦楞紙板(ban)邊壓強度試(shi)驗(yan)(ECT)
——配(pei)備(bei)平壓(ya)試樣取樣器,進行(xing)瓦楞紙板(ban)平壓(ya)強度試驗(FCT)
——配備剝離強度試驗(yan)(yan)架,進行(xing)瓦楞紙板粘(zhan)合(剝離)強度試驗(yan)(yan)(PAT)
——配(pei)備槽紋儀和輔助器(qi)具,進行瓦楞原紙平壓強度(CMT)
二、執行標(biao)準(zhun)
ISO 12192《紙和紙板----壓縮強度-----環壓法》
ISO 3070《瓦(wa)楞紙板-----邊緣耐壓強度(du)的測定》
ISO 7263《瓦楞芯紙----實驗室起楞后平壓強(qiang)度的測定》
ISO 3035《單面(mian)和單瓦楞紙板(ban) 平壓強度(du)的測定》
ISO 11093-9《紙和紙板(ban) 紙芯的(de)測(ce)(ce)定 第(di)9部分:平壓強度的(de)測(ce)(ce)定》
GB/T 2679.8《紙和(he)紙板環壓(ya)強度的測定》
GB/T 6546《瓦(wa)楞紙板邊壓強(qiang)度(du)的測定》
GB/T 6548《瓦楞紙板粘合強度的測定》
GB/T 2679.6《瓦楞原紙平壓強(qiang)度的測定》
GB/T22874《單面和單瓦(wa)楞紙板 平壓強度的(de)測定》
GB/T22906.9《紙芯的測(ce)(ce)定第9部分:平(ping)壓強度的測(ce)(ce)定》
三、 主(zhu)要性能參數
四、主要技術參(can)數(shu)
參數項目 | 技術指標 |
電源(yuan) | AC220V±10% 50HZ |
測量范圍(N) | 50~5000 |
分辨力(N) | 1 |
示值準確度 | 示(shi)值誤差±1%,示(shi)值變動性≤1% |
上下壓板平行度(mm) | <0.05 |
上(shang)下壓板(ban)距離(mm) | >78可(ke)按(an)客戶(hu)要(yao)求定制 |
注:測試數據(ju)在100N以下(xia)(含100N)時,示值準確度允許超(chao)出上(shang)表規(gui)定(ding)范圍
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